引用格式：，等.边缘计算下的绝缘子缺陷小样本检测研究[J].现代电子技术，2025，48（10）：76-84.
关键词：绝缘子缺陷；小样本检测；RT-DETR编码器；边缘计算；距离嵌入模块；路径聚合网络中图分类号：TN919.8-34；T（试读）...
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