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铝加热盘氟化层厚度对PECVD设备和工艺的影响-中国新技术新产品2026年05期

铝加热盘氟化层厚度对PECVD设备和工艺的影响

作者:郭月 姜宗帅 字体:      

中图分类号:TN305 文献标志码:A

PECVD具有沉积温度低、沉积速率高、薄膜均匀性和致密性好的优点,因此广泛应用于氮化硅( SiNx )、氧化硅( SiO2 )等多材料介质薄膜的制备。全新的PECVD设备在进行工艺前,为了(试读)...

中国新技术新产品

2026年第05期